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内部残余应力全貌测试技术--轮廓法

作者：刘川| 出版社：科学
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  • 包装：平装
  • 出版社：科学
  • ISBN：9787030777775
  • 作者：刘川|
  • 页数：233
  • 出版日期：2024-03-01
  • 印刷日期：2024-03-01
  • 开本：16开
  • 版次：1
  • 印次：1
  • 字数：300千字
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